霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)試流程

霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)是一種用于材料科學(xué)、信息科學(xué)與系統(tǒng)科學(xué)領(lǐng)域的儀器，主要用于研究光電材料的電學(xué)特性，可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。

 

測(cè)試流程：

 

1、接通電源，打開(kāi)電腦。

2、調(diào)整儀器，放置準(zhǔn)備好的樣品。

3、抽真空。

4、設(shè)置參數(shù)。

5、加液氮至所需溫度條件。

6、測(cè)量，讀取結(jié)果，保存。

7、斷開(kāi)電源，關(guān)閉電腦。

8、待樣品冷卻至常溫在大氣壓下取樣。

 

霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) L79/HCS可用于半導(dǎo)體組件性能表征，包括:遷移率，電阻率，載流子濃度和霍爾常數(shù)。

 

特點(diǎn)：

 

• 載流子濃度

• 電阻率

• 遷移率

• 電導(dǎo)率

• α (水平電阻值/垂直電阻值)

• 霍爾常數(shù)

• 磁致電阻